澤攸科技 ZEM 系列臺式掃描電鏡：解碼微橡膠污染的微觀利器

更新時間：2025-08-05

點擊次數：242

為什么微觀觀察是污染研究的 “第一道門"？

微橡膠顆粒的環境危害，與其微觀形貌、表面特性、粒徑分布密切相關：粗糙的表面更容易吸附重金屬和有機污染物，細小的粒徑則能穿透生物屏障進入細胞。但這些顆粒直徑多在 1-500 微米之間，遠超光學顯微鏡的分辨極限，傳統檢測手段難以捕捉關鍵細節。

澤攸科技 ZEM 系列臺式掃描電鏡的出現，為研究者打開了微觀觀察的 “快速通道"。無需復雜樣品制備，即可實現納米級分辨率成像，讓微橡膠顆粒的真實面貌清晰呈現 —— 這正是青島科技大學等團隊在 TWP 與 LAP 毒性對比研究中，能精準分析顆粒特性的關鍵所在。

ZEM 系列臺式電鏡讓微觀觀察更高效、更精準

作為專為科研與工業檢測設計的臺式掃描電鏡，ZEM 系列從根本上解決了傳統大型電鏡 “操作復雜、依賴專業人員、安裝條件苛刻" 的痛點，同時保持了核心性能的高標準：

高分辨率成像：1.5nm 的二次電子分辨率（30kV 下），能清晰捕捉微橡膠顆粒的表面紋理、孔隙結構甚至納米級附著物，為分析其吸附能力提供直接依據。

快速抽真空設計：樣品放入后最快 3 分鐘即可開始觀察，相比傳統電鏡動輒半小時的抽真空時間，大幅提升實驗效率，尤其適合批量樣品檢測。

智能化操作：搭載自動對焦、自動 stitching 拼圖功能，非電鏡專業的科研人員也能快速上手，輕松獲取顆粒的全景形貌與局部細節。

靈活的樣品兼容性：無論是水體過濾后的干燥顆粒，還是生物組織中的內嵌顆粒，都能通過針對性樣品臺設計實現穩定觀察，無需復雜預處理。

從實驗室到應用場景：ZEM 如何助力微橡膠研究？

在輪胎磨損顆粒（TWP）與乳膠顆粒（LAP）的對比研究中，ZEM 系列電鏡展現了不可替代的價值：

形貌差異可視化：通過 ZEM 的高倍成像發現，TWP 表面因摩擦形成了不規則的撕裂狀結構，而 LAP 則呈現更光滑的球形或片狀形態 —— 這種差異直接影響了兩者在水體中的沉降速率與生物可利用性。

粒徑分布精準統計：結合圖像分析軟件，ZEM 能快速統計數百個顆粒的尺寸數據，為研究 “粒徑與毒性的相關性" 提供量化依據（如實驗發現 < 50 微米的 LAP 對斑馬魚胚胎致畸性更強）。

表面附著物識別：通過配套的能譜儀（EDS），可同步分析顆粒表面吸附的元素成分，揭示 “微橡膠 + 污染物" 的復合毒性機制。

這些微觀層面的發現，正是后續毒性實驗、環境行為分析的基礎 —— 沒有精準的形貌與結構數據，污染機制的研究就如同 “盲人摸象"。

不止于污染研究：臺式電鏡的 “多場景戰斗力"

ZEM 系列臺式掃描電鏡的價值，遠不止于環境污染物檢測。其 “小型化、高性價比、易操作" 的特點，讓它成為科研與工業領域的 “多面手"：

材料科學：觀察電池電極的微觀結構、復合材料的界面結合狀態；

生命科學：分析生物材料的表面形貌、微生物與載體的相互作用；

工業質檢：快速識別電子元件的微觀缺陷、金屬材料的腐蝕形態。

相比傳統落地式電鏡，ZEM 系列在保持核心性能的同時，將設備體積縮小 60%，安裝無需專用機房，成本降低 50% 以上，讓更多實驗室能擁有 “微觀觀察自由"。

從解碼微橡膠污染的秘密，到推動新材料研發的突破，澤攸科技 ZEM 系列臺式掃描電鏡正以 “看得見的細節"，支撐著看不見的科研突破。在微觀世界的探索中，它不僅是一臺儀器，更是連接宏觀現象與微觀機理的 “橋梁"—— 讓每一個細微的發現，都能成為解決重大問題的起點。