臺式掃描電子顯微鏡（Desktop SEM）作為傳統大型SEM的重要補充，以其便捷性和靈活性在多個領域展現出應用價值。澤攸ZEM20便是該類別中一個值得關注的型號，它集成了多項實用技術，為用戶提供了納米尺度觀測的解決方案。

產品細節與用材方面，ZEM20在設計上考慮了用戶的操作體驗與設備的長期穩定性。其鏡體部分通常采用金屬材料構建，確保了真空腔體的結構穩定性和抗干擾能力。樣品室設計注重實用性，提供了適中的樣品空間，并配備了可電動控制的樣品臺，允許用戶在低真空模式下快速更換樣品，提升了工作效率。探測系統是電鏡的核心，ZEM20采用了高性能的背散射電子（BSE）探測器，其材料選擇對探測效率至關重要，確保了在不同加速電壓下能有效收集樣品成分對比信息。

產品性能與參數是衡量一臺電鏡的關鍵。ZEM20在不同模式下表現出其特點。在高真空模式下，它能提供良好的圖像分辨率，適用于大多數常規材料的微觀形貌觀察。其低真空模式允許直接觀察不導電或含水樣品，無需進行復雜的噴金預處理，這大大簡化了制樣流程，尤其適用于生物、高分子材料等領域。其加速電壓可在一定范圍內調節，以適應不同材質的樣品，避免對敏感樣品造成損傷。

主要用途：ZEM20廣泛應用于材料科學（如金屬、陶瓷、半導體缺陷分析）、生命科學（如昆蟲、植物組織、骨骼）、化工（如催化劑、粉末顆粒）以及高等教育和工業質檢（如電子產品失效分析）等領域。它非常適合作為實驗室的日常快速檢測工具，或用于教學演示。

使用說明：操作流程已大為簡化。開機后，軟件系統會引導用戶完成抽真空等準備步驟。放置樣品后，用戶可通過軟件界面選擇觀察模式（高真空或低真空）、調節加速電壓和束流強度。然后利用電動樣品臺移動視野，并配合聚焦和像散校正功能，即可獲得清晰的二次電子或背散射電子圖像。澤攸提供的操作軟件通常集成了圖像采集、測量和標注功能，方便用戶進行后續分析。

參數表（示例）：