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澤攸原位MEMS：動態電鏡觀測新方案在材料科學、納米技術和生命科學等領域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結構的重要工具。而原位實驗技術的進步，使得研究人員能夠在原子尺度下實時觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場等）下的動態變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機電系統）技術，為這一研究方向提供了新的實驗手段。

澤攸ZP3-4微納探針臺是一款適用于微納器件電學性能測試的精密儀器，主要服務于半導體器件、納米材料和微電子機械系統（MEMS）等領域的研究與測試需求。該系統采用模塊化設計理念，可滿足不同規格樣品的測試要求。澤攸ZP3-4微納探針臺精密電學測量平臺

澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺式掃描電子顯微鏡，專為材料科學、生命科學、工業檢測等領域設計。該設備在保持傳統電鏡高分辨率優勢的同時，通過優化設計實現了操作簡便性和空間效率的平衡。澤攸科技ZEM15C臺式掃描電鏡技術解析與應用

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。芯片電極聯通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學測試環境。