西班牙Sensofar三維共焦白光干涉光學輪廓儀

Sensofar S neox：開啟三維共焦白光干涉測量新時代

在科學研究與工業生產的廣袤領域中，高精度的表面測量技術始終是推動創新與進步的關鍵力量。西班牙 Sensofar 公司匠心打造的 S neox 三維共焦白光干涉光學輪廓儀，宛如一顆璀璨的明星，憑借其性能、創新的技術和廣泛的適用性，在眾多測量設備中脫穎而出，為各行業帶來了測量體驗與解決方案。

一、突破速度極限，大幅提升效率

S neox 在設計之初便將速度提升作為核心目標，通過采用全新智能且獨算法，搭配新型相機，成功實現了數據采集速度高達 180fps 的驚人突破。相較于以往的測量系統，其標準測量采集速度快了 5 倍之多，一躍成為市場上速度最快的表面測量系統。在科研項目中，時間就是進展的保障，S neox 能夠在短時間內獲取大量精確數據，極大地提高了實驗效率，助力科研人員更快地推進項目進程。在工業生產的質量檢測環節，快速的測量速度意味著能夠在更短時間內完成更多產品的檢測，有效提升生產效率，降低生產成本。

二、四合一測量技術，鑄就強大多功能性

Sensofar 的四合一測量技術堪稱 S neox 的一大核心亮點。在其傳感器頭中，巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種先進測量技術。只需輕松點擊一次，系統便能依據當前測量任務的具體需求，自動智能地切換到最為適配的最佳技術。這種強大的多功能性使得 S neox 能夠輕松應對幾乎所有類型的表面形貌測量，無論是不同材質、結構，還是表面粗糙度和波度的測量，它都能精準勝任。在半導體制造領域，對于芯片表面微納結構的測量，共聚焦技術可發揮其高橫向分辨率的優勢，實現臨界尺寸的精確測量；而對于光學鏡片表面的平整度檢測，干涉技術又能憑借其納米級的縱向分辨率，提供高精度的測量結果。

三、高精度測量，保障數據可靠性

對于科研和工業應用而言，測量精度無疑是至關重要的。S neox 在精度方面表現，共聚焦技術的橫向分辨率可達 0.10um，能夠清晰分辨樣品表面的細微結構，為關鍵尺寸的測量提供了可靠保障。其共聚焦算法確保了 Z 軸測量重復性處于納米范疇，在進行高精度表面高度測量時，能夠提供穩定且準確的結果。白光干涉技術作為一種納米級測量精度的表面高度形貌測量技術，在任何放大倍數下都能保證納米級的縱向分辨率，能夠精準還原各種表面的真實形貌。在材料研究中，對于材料微觀表面的粗糙度和微觀結構的測量，S neox 的高精度測量性能能夠為研究人員提供準確的數據支持，助力深入了解材料性能與微觀結構之間的關系。

四、創新設計，測量新體驗

S neox 的測量頭采用了無運動部件的創新設計，這一設計極大地提升了系統的長期穩定性和測量重復性。無需擔心因運動部件的磨損而影響測量精度，為用戶提供了更加可靠的測量保障。同時，該儀器配備了四個具有長使用壽命的 LED 光源，不僅避免了激光光源可能產生的散斑現象，而且其使用壽命長達約 50000 小時，是激光光源的約 25 倍。多個 LED 光源還能根據樣品的不同需求，靈活選擇最合適的波長進行測量，進一步提升了測量的準確性和適應性。在搭配 SensoSCAN 軟件系統后，用戶能夠享受到難以置信的直觀操作體驗，從設備的基本操作到高級功能的應用，都能輕松上手，大大降低了操作門檻，提高了工作效率。

Sensofar S neox 三維共焦白光干涉光學輪廓儀以其在速度、多功能性、精度和設計等方面的表現，為半導體、光學加工、材料研究、生物醫學等眾多領域提供了強大而可靠的測量解決方案。它不僅能夠滿足當前各行業對于高精度表面測量的嚴苛需求，更為未來的科研探索與工業創新提供了堅實的技術支撐。相信在 S neox 的助力下，各行業將在微觀世界的探索中邁出更加堅實的步伐，取得更多突破性的成果。

4、輕松定位樣品

XY 平臺的行程范圍達125 mm x 75 mm，可輕松放置及定位樣品，并使用與光軸完*對齊的尖*傾斜平臺輕松調平樣品。

5、多種物鏡選擇

在操作過程中，可使用6位電動鼻輪隨時切換物鏡，體驗無限可能。從多種兼容鏡頭中進行選擇，包括具有長焦鏡頭和水鏡等特定選項。

西班牙Sensofar三維共焦白光干涉光學輪廓儀