在科研與工業生產中，對微觀世界的精準探索離不開得力的測量工具。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學輪廓儀，以其設計與實用性能，為各領域提供了可靠的測量支持。布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴
產品細節：設計精巧，操作簡便
ContourGT - K 外觀緊湊，易于安置在各類實驗臺或生產線上。其操作界面友好，按鍵布局合理，搭配清晰的顯示屏，操作人員能迅速上手，輕松完成參數設置。樣品臺可靈活調節，能穩固承載不同形狀與尺寸的樣品，從微小的電子元件到較大的機械部件，都能確保測量位置精準。設備的光學鏡頭保護良好，減少了灰塵、碰撞等外界因素干擾，保障測量的穩定性。
產品性能：技術融合，穩定可靠
該輪廓儀融合*的白光干涉技術與精密光學系統，通過分析光的干涉現象，精準還原樣品表面三維形貌。測量過程中，設備運行平穩，數據采集連貫，測量結果一致性佳。它能適應多種表面特性，無論是光滑的光學鏡片，還是粗糙的金屬加工表面，都能獲取有效的測量數據。測量范圍靈活可變，既適用于小范圍精細結構的測量，也能滿足大面積區域的快速掃描需求。
用材講究：品質選材，經久耐用
布魯克在 ContourGT - K 的選材上十分用心。核心光學部件采用高透光率、低色散的光學玻璃，確保光線傳輸穩定，成像清晰準確。機械傳動部分選用耐磨、高強度的合金材料，長期高頻使用下，依然能保持出色的運動精度，延長設備使用壽命。設備外殼堅固且具備一定的抗腐蝕能力，有效保護內部精密部件，適應多樣的工作環境。
參數詳情
廣泛用途
在半導體制造中，可精確測量芯片表面的粗糙度、線路寬度與深度，助力提升芯片性能與良品率。在光學元件生產里，能對透鏡、棱鏡的表面面形誤差進行檢測，保障光學元件的成像質量。材料科學研究時，用于分析薄膜厚度、表面微觀結構，為新材料研發提供關鍵數據。此外，在微機電系統（MEMS）制造、醫療器械生產等領域，也能發揮重要的質量檢測作用。
使用說明
使用前，仔細檢查設備外觀有無損壞，各部件連接是否牢固。將設備放置在平穩、無振動的工作臺上，確保工作環境溫度、濕度適宜，避免環境因素影響測量精度。連接好電源及相關配件后，按照說明書進行設備初始化設置。安裝樣品時，依據樣品特性選擇合適的固定方式，確保樣品穩固且處于正確測量位置。設置測量參數時，根據樣品類型、測量目的謹慎選擇測量范圍、分辨率、掃描模式等。測量過程中，密切關注設備運行狀態，若發現圖像異常、測量數據波動過大等情況，立即停止測量，排查故障原因，如檢查光路是否有遮擋、樣品是否發生位移等。測量完成后，及時關閉設備電源，清理樣品臺，定期對設備進行全面清潔與維護，包括對光學部件進行清潔、對機械傳動部件進行潤滑等，確保設備始終處于良好工作狀態。憑借出色的設計、可靠的性能與廣泛的適用性，布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學輪廓儀成為微觀測量領域的得力助手，助力各行業邁向精密制造與科研新高度。
布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴
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