布魯克白光干涉輪廓儀多領(lǐng)域測量的實(shí)用之選

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉輪廓儀多領(lǐng)域測量的實(shí)用之選
在微觀測量的復(fù)雜世界中，布魯克 ContourGT - X 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借自身優(yōu)勢，為眾多行業(yè)提供了實(shí)用的測量解決方案，成為科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者信賴的得力工具。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-08-20

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：136

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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在微觀測量的復(fù)雜世界中，布魯克 ContourGT - X 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借自身優(yōu)勢，為眾多行業(yè)提供了實(shí)用的測量解決方案，成為科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者信賴的得力工具。

布魯克白光干涉輪廓儀多領(lǐng)域測量的實(shí)用之選

產(chǎn)品細(xì)節(jié)：合理布局，操作便利

ContourGT - X 的外觀設(shè)計(jì)注重實(shí)用性，各部件布局合理。操作面板簡單易懂，操作人員可快速進(jìn)行參數(shù)設(shè)置與功能切換。樣品臺(tái)具備良好的兼容性，能適配多種形狀和尺寸的樣品，且調(diào)整過程平穩(wěn)順暢，確保樣品在測量時(shí)處于最佳位置。設(shè)備的光學(xué)系統(tǒng)防護(hù)到位，有效減少灰塵、濕氣等對測量的不良影響。

產(chǎn)品性能：技術(shù)協(xié)同，表現(xiàn)優(yōu)良

該輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與精密的光學(xué)成像系統(tǒng)，通過對干涉條紋的精確分析，獲取樣品表面的詳細(xì)三維信息。測量過程中，設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定，數(shù)據(jù)采集高效，能在不同類型的表面上獲取可靠的測量結(jié)果。其測量范圍可根據(jù)實(shí)際需求靈活調(diào)整，既能對微小區(qū)域進(jìn)行高分辨率測量，又能對較大面積進(jìn)行快速掃描，滿足多樣化的測量任務(wù)。

用材講究：品質(zhì)優(yōu)先，經(jīng)久實(shí)用

布魯克在 ContourGT - X 的選材上嚴(yán)格遵循品質(zhì)原則。光學(xué)部件采用優(yōu)質(zhì)光學(xué)材料，保證光線的高效傳輸與成像的清晰度。機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度、抗疲勞的金屬材料，使得設(shè)備在長期使用過程中，依然能保持良好的運(yùn)動(dòng)精度和穩(wěn)定性。設(shè)備外殼具備一定的防護(hù)能力，可適應(yīng)較為復(fù)雜的工作環(huán)境。

參數(shù)詳情

參數(shù)項(xiàng)	具體數(shù)值
橫向分辨率	滿足常見微觀測量精度要求
縱向測量范圍	多種量程可供選擇
樣品臺(tái)承載能力	可承載相應(yīng)重量的樣品
測量速度	依據(jù)測量模式靈活變化
數(shù)據(jù)處理能力	具備一定的數(shù)據(jù)處理與分析功能

廣泛用途

在電子制造領(lǐng)域，可用于檢測電路板表面的焊接質(zhì)量、元件引腳的平整度等，保障電子產(chǎn)品的性能穩(wěn)定。在珠寶加工行業(yè)，能對寶石的表面粗糙度、切割面的平整度進(jìn)行測量，提升珠寶品質(zhì)。在教育科研中，幫助學(xué)生與研究人員觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)，為學(xué)術(shù)研究提供數(shù)據(jù)支持。此外，在精密模具制造、航空航天零部件檢測等領(lǐng)域，也發(fā)揮著重要的測量作用。憑借出色的產(chǎn)品細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)、可靠的性能表現(xiàn)、優(yōu)質(zhì)的用材以及廣泛的用途，布魯克 ContourGT - X 白光干涉光學(xué)輪廓儀在微觀測量領(lǐng)域展現(xiàn)出強(qiáng)大的實(shí)用價(jià)值，助力各行業(yè)在精密測量方面不斷進(jìn)步。布魯克白光干涉輪廓儀多領(lǐng)域測量的實(shí)用之選

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