布魯克三維光學(xué)輪廓儀：小型實驗室測量利器
對于空間有限的小型實驗室或教學(xué)實驗室，布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-200 以其小巧身形與實用性能，成為微觀測量工作的理想選擇。
產(chǎn)品細節(jié)
ContourX-200 采用迷你桌面設(shè)計，機身重量僅 8kg，尺寸與一臺小型打印機相近，可直接放置在普通實驗臺角落，極大節(jié)省空間。操作界面采用簡化設(shè)計，僅保留核心功能按鍵，搭配清晰的圖標式顯示屏，適合學(xué)生或新手快速掌握操作流程。樣品臺為手動調(diào)節(jié)式，配備刻度標尺，便于操作人員直觀判斷樣品移動距離，雖無自動平移功能，但結(jié)構(gòu)簡單可靠，維護成本低。設(shè)備光學(xué)部件集成度高，鏡頭與光源一體化設(shè)計，無需復(fù)雜的光學(xué)調(diào)試步驟，開箱后連接電源即可使用。機身側(cè)面設(shè)有便攜提手，方便在不同實驗室間移動，滿足多房間教學(xué)或臨時測量需求。
產(chǎn)品性能
ContourX-200 雖體積小巧，但測量性能可滿足基礎(chǔ)微觀測量需求。其采用白光干涉測量技術(shù)，能對表面粗糙度 Ra 值在 0.01 - 10μm 范圍內(nèi)的樣品進行有效測量，如塑料樣品的表面紋理、薄金屬片的厚度差等。設(shè)備測量數(shù)據(jù)的重復(fù)性較好，在相同條件下多次測量，結(jié)果偏差較小，適合教學(xué)實驗中對比不同樣品的特性差異。測量速度適中，單次小區(qū)域（如 500μm×500μm）掃描時間約 1 - 2 分鐘，既能完成教學(xué)演示，又不會讓實驗過程過于冗長。此外，設(shè)備具備數(shù)據(jù)實時顯示功能，掃描過程中可動態(tài)觀察樣品表面三維形貌的生成，便于教學(xué)中直觀講解測量原理。
用材講究
為控制體積與重量，ContourX-200 外殼采用輕質(zhì)高強度工程塑料，具備一定的抗摔能力，適合教學(xué)環(huán)境中頻繁移動與使用。光學(xué)鏡頭選用高透光率樹脂鏡片，雖在精度要求下略遜于玻璃鏡片，但能滿足基礎(chǔ)測量與教學(xué)需求，且成本更低、不易破碎。樣品臺臺面采用耐磨的亞克力材質(zhì)，表面光滑平整，可直接放置樣品，無需額外夾具，簡化操作步驟。內(nèi)部電路采用低功耗設(shè)計，搭配節(jié)能光源，不僅降低耗電量，還減少設(shè)備發(fā)熱，延長使用壽命。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在高校教學(xué)實驗中，ContourX-200 可用于材料科學(xué)基礎(chǔ)實驗，讓學(xué)生學(xué)習(xí)表面粗糙度測量方法；在中職院校的機械專業(yè)實訓(xùn)中，能幫助學(xué)生檢測手工打磨零件的表面質(zhì)量，理解加工工藝對表面特性的影響；在小型科研團隊中，適合用于新材料的初步篩選測量，如檢測不同配方涂層的厚度均勻性；此外，在中小學(xué)的科普實驗中，也可通過其直觀的三維成像，讓學(xué)生初步了解微觀世界的表面形態(tài)。
使用說明
使用前，將 ContourX-200 放置在平穩(wěn)的實驗臺上，避免靠近窗戶或空調(diào)出風(fēng)口，防止光線直射與氣流干擾。連接電源與電腦，安裝配套測量軟件并完成設(shè)備連接。清潔樣品表面，去除灰塵與雜質(zhì)，將樣品直接放置在樣品臺中央，通過手動旋鈕移動樣品臺，使測量區(qū)域?qū)淑R頭下方。打開軟件，設(shè)置測量參數(shù)（如掃描范圍、分辨率），點擊 “對焦" 按鈕，軟件自動完成對焦操作，若對焦效果不佳，可手動微調(diào)樣品臺高度。啟動測量后，軟件實時顯示掃描進度與三維形貌圖，測量過程中避免觸碰設(shè)備。測量完成后，可在軟件中進行數(shù)據(jù)分析（如計算粗糙度、高度差），并將結(jié)果保存為圖片或表格格式。實驗結(jié)束后，關(guān)閉設(shè)備電源，斷開電腦連接，用干布擦拭樣品臺與機身，若鏡頭表面有灰塵，可用專用鏡頭紙輕輕擦拭。定期（建議每學(xué)期）檢查設(shè)備光學(xué)部件是否偏移，若發(fā)現(xiàn)測量結(jié)果異常，及時聯(lián)系專業(yè)人員校準。
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