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產品簡介
徠卡DM4M：半自動金相顯微的實用之選在材料科學領域，一款兼具操作便捷性與成像可靠性的顯微鏡是科研與生產的得力助手。徠卡正置式半自動金相顯微鏡DM4M，憑借其設計與實用功能，成為眾多用戶的信賴之選。
在材料科學領域，一款兼具操作便捷性與成像可靠性的顯微鏡是科研與生產的得力助手。徠卡正置式半自動金相顯微鏡DM4M，憑借其設計與實用功能，成為眾多用戶的信賴之選。
DM4M采用模塊化設計，可靈活實現反射與透反射觀察模式切換，滿足不同樣品的檢測需求。其配備6孔位編碼物鏡轉盤，可搭載32mm直徑工業物鏡，支持從低倍到高倍的連續觀察。機身內置LED透反射照明系統，智能光強調節功能可根據觀察模式自動匹配最佳亮度，確保成像穩定性。
該顯微鏡的2-齒輪手動調焦驅動器設計兼顧粗調與微調需求，配合手動三疊式載物臺，可實現樣品在X、Y、Z三軸方向的精準定位。6個可編程功能鍵布局符合人體工學，用戶可將常用操作（如光強調節、對比模式切換）綁定至快捷鍵，大幅提升工作效率。
| 參數類別 | 詳細規格 |
|---|---|
| 目鏡 | 10×，視域直徑25mm |
| 物鏡 | 5×（NA=0.15）、10×（NA=0.30）、20×（NA=0.50）、50×（NA=0.85）、100×（NA=0.90） |
| 載物臺 | 手動三疊式，支持4×4或6×6英寸大樣品臺擴展 |
| 照明系統 | LED透反射光源，壽命達25,000小時 |
| 對比模式 | 明場、暗場、微分干涉相襯、偏振、熒光 |
| 調焦精度 | 細調焦步進1μm |
DM4M適用于金屬、陶瓷、高分子材料及電子元器件的常規檢測。在鋼鐵行業，其可快速完成夾雜物比例測定與晶粒度分析；在半導體領域，通過熒光觀察模式可檢測芯片表面缺陷。用戶只需將樣品固定于載物臺，通過物鏡轉盤選擇合適倍率，利用照明管理系統自動匹配光強參數，即可開始觀察。成像數據可通過LAS X軟件平臺導出，支持與歷史記錄對比分析。