在材料科學、生物研究、電子元器件等眾多領域，觀察樣品的微觀結構是一項基礎而重要的工作。傳統的光學顯微鏡由于分辨率限制，難以滿足納米尺度的觀測需求。澤攸科技的ZEM20臺式掃描電子顯微鏡（SEM），為實驗室和生產線提供了一種較為便利的微觀觀測方案。

ZEM20是一款設計緊湊的臺式掃描電鏡，它打破了傳統落地式電鏡對場地和環境的高要求。其整體尺寸小巧，可以輕松安置于標準實驗臺上，無需特殊的安裝基礎。儀器外觀簡潔，操作界面直觀，旨在降低用戶的學習和使用門檻。

在核心性能方面，ZEM20采用了熱發射電子槍作為電子源，提供了穩定的發射電流。其分辨率指標優于3.5納米（30kV下），這意味著它能夠清晰展示大多數細菌的形態、納米材料的輪廓、金屬斷口的細節等。加速電壓在1kV至30kV范圍內可調，用戶可以根據樣品的性質（如導電性、耐電子束損傷能力）靈活選擇，實現對導電、非導電及部分敏感樣品的觀測。

考慮到使用的便利性，ZEM20配備了*的真空系統。其樣品室抽真空時間較短，從放入樣品到獲得圖像，準備流程簡潔。樣品臺可進行五軸移動（X, Y, Z, 傾斜，旋轉），方便用戶快速定位感興趣的區域。樣品倉室設計合理，最大可容納直徑達100毫米的樣品，為觀測不同尺寸的樣品提供了靈活性。

澤攸ZEM20不僅是一臺觀測設備，更是一個開放的微觀分析平臺。標準配置下包含高效率和背散射電子探測器，可以同時獲取樣品表面形貌和成分襯度信息。用戶還可根據后續需求，選配能譜儀（EDS）等附件，實現樣品微區元素的定性定量分析，拓展其應用范圍。

總而言之，澤攸ZEM20臺式掃描電鏡以其適中的性能、緊湊的設計和便捷的操作，為眾多需要進入微觀世界的用戶打開了一扇窗。

ZEM20 基本參數表