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產(chǎn)品簡介
ZYGO 3D光學(xué)輪廓儀用材優(yōu)勢與結(jié)構(gòu)設(shè)計ZYGO ZeGage Pro 3D光學(xué)輪廓儀在用材選擇與結(jié)構(gòu)設(shè)計上深度聚焦“穩(wěn)定、耐用、精準"三大核心目標，通過優(yōu)質(zhì)材料與成熟技術(shù)的結(jié)合，為各行業(yè)測量任務(wù)提供可靠支撐。
產(chǎn)品分類
ZYGO ZeGage Pro 3D光學(xué)輪廓儀在用材選擇與結(jié)構(gòu)設(shè)計上深度聚焦“穩(wěn)定、耐用、精準"三大核心目標，通過優(yōu)質(zhì)材料與成熟技術(shù)的結(jié)合，為各行業(yè)測量任務(wù)提供可靠支撐。
性能特點分析
ZeGage Pro的核心理念是“穩(wěn)定、耐用、精準"。光學(xué)系統(tǒng)采用低色散玻璃與多層抗反射膜，減少光線色散與反射損耗；機械結(jié)構(gòu)選用高強度鋁合金框架與不銹鋼臺面，兼具輕量化與高剛性，抵抗環(huán)境振動干擾。壓電掃描單元采用高性能陶瓷，實現(xiàn)納米級精準位移，長期使用性能衰減緩慢。設(shè)備支持手動或電動XY平臺，行程可選100mm×100mm或200mm×200mm，適配不同尺寸樣品。
應(yīng)用場景舉例
在光學(xué)制造領(lǐng)域，ZeGage Pro可測量透鏡面型誤差、鍍膜表面質(zhì)量；半導(dǎo)體行業(yè)中，可評估晶圓表面粗糙度、薄膜厚度；材料科學(xué)領(lǐng)域，可分析金屬、陶瓷的表面紋理與磨損情況。其非接觸式測量特性避免了對脆弱樣品的損傷，適用于科研機構(gòu)與工業(yè)質(zhì)檢場景
應(yīng)用價值體現(xiàn)
在光學(xué)制造領(lǐng)域，低色散鏡片與穩(wěn)定光源確保干涉信號質(zhì)量，助力透鏡面型誤差、鍍膜表面變化等參數(shù)的精準測量；在半導(dǎo)體行業(yè)，高精度壓電掃描單元與不銹鋼臺面配合，可實現(xiàn)晶圓薄膜厚度、光刻膠圖形臺階高度的納米級測量；在材料科學(xué)領(lǐng)域，密封外殼設(shè)計與環(huán)境控制艙搭配，能將溫度波動控制在±0.5℃、濕度波動控制在±2%，為生物材料、光學(xué)晶體等對環(huán)境敏感的樣品提供穩(wěn)定測量環(huán)境。
綜上，ZeGage Pro通過科學(xué)的用材選擇與合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計，在穩(wěn)定性、耐用性與精準性上達成平衡，為科研與工業(yè)領(lǐng)域的表面形貌測量需求提供堅實保障。
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