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臺式電鏡&臺階儀&原位分析 澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統,在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境,實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
 更新時間:2025-04-22
更新時間:2025-04-22 產品型號:
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澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
 更新時間:2025-04-22
更新時間:2025-04-22 產品型號:
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澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
 更新時間:2025-04-22
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澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
 更新時間:2025-04-22
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澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
 更新時間:2025-04-22
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澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
 更新時間:2025-04-22
更新時間:2025-04-22 產品型號:
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