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技術文章
TECHNICAL ARTICLES共聚焦白光干涉儀在半導體行業中具有廣泛的應用，同時也面臨著一些挑戰。以下是對其應用與挑戰的詳細分析：應用高精度表面形貌測量：共聚焦白光干涉儀以其高精度(可達納米級)和非接觸式的測量方式，成為半導體制造過程中表面形貌檢測的重要工具。它能夠準確測量半導體晶片、芯片封裝等關鍵部件的表面粗糙度、平整度等參數，確保產品質量?；瘜W機械平面化(CMP)過程監測：在CMP過程中，共聚焦白光干涉儀可用于監測拋光墊的表面光澤和槽阻塞情況，從而優化拋光工藝，提高晶片的平整度。這對于實現高質量、高性...
顯微鏡是科學研究和工業檢測中的重要工具，其應用領域廣泛，包括生物學、醫學、材料科學等。隨著科技的發展，顯微鏡技術不斷演進，徠卡金相顯微鏡與普通顯微鏡就是其中的兩種常見類型。雖然它們都用于觀察微小物體，但在結構、功能和應用領域上存在顯著差異。一、顯微鏡的基本原理普通顯微鏡，又稱光學顯微鏡，通過光學系統放大樣品，使得肉眼無法分辨的細節變得可見。其基本結構包括光源、聚光鏡、物鏡和目鏡。普通顯微鏡通常用于觀察生物細胞、組織切片等樣品，適合各種實驗室應用。徠卡金相顯微鏡則是一種專門用于...
徠卡顯微鏡以其良好的圖像質量和精密的光學系統，在科學研究、醫學診斷和工業檢測中發揮著重要作用。正確的操作流程不僅能確保產品的性能，還能提高實驗的準確性和效率。以下是徠卡顯微鏡操作的詳細步驟，幫助用戶充分發揮這一高級設備的潛力。一、準備1.環境準備：確保顯微鏡放置在穩定、干燥且溫度適宜的環境中。避免陽光直射和溫度劇烈波動，以保證設備的穩定性和圖像質量。2.電源連接：檢查電源線和插頭，確保連接穩固。接通電源，啟動顯微鏡。部分型號可能需要預熱幾分鐘，以確保光源穩定。3.光學系統檢查...
三維光學輪廓儀作為一種高精度、非接觸式的測量工具，正逐步成為多個領域中重要的測量設備。其非接觸式的測量方式不僅避免了傳統接觸式測量可能帶來的表面損傷，還顯著提高了測量效率和精度。以下將詳細闡述三維光學輪廓儀的廣泛應用及其在未來非接觸式測量領域的重要地位。一、高精度表面形貌測量三維光學輪廓儀能夠以納米級的分辨率測量物體表面的三維形貌，包括粗糙度、波紋度、表面結構、缺陷分析等。這種高精度的測量能力使得它在微電子、半導體、光學、材料科學等領域具有廣泛的應用。例如，在半導體制造中，三...
在納米科學研究和工業生產中，精密測量技術扮演著至關重要的角色。安徽澤攸科技有限公司，作為具有全部自主知識產權的科學儀器公司，其研發的探針臺產品，尤其是澤攸探針臺，成為了納米測量領域的先進者。本文將深入探討它的主要功能、技術特點及其在多個領域的應用。澤攸探針臺，作為澤攸科技的重要產品線之一，以其高精度、高分辨率和多功能性，在納米材料表征、器件測試及生物細胞操作等領域展現出強大的應用潛力。該探針臺采用了先進的掃描探針技術，能夠在微觀尺度下對樣品表面進行精確測量和操縱，為科研人員提...
在材料科學、生物醫學及納米技術等領域，掃描電鏡（SEM）作為重要的分析工具，其應用日益廣泛。澤攸科技推出的臺式掃描電鏡，憑借其緊湊的設計、高清晰度的成像及便捷的操作流程，受到了科研人員的青睞。以下將詳細介紹澤攸臺式掃描電鏡的使用方法。一、準備工作1.環境準備：確保操作環境相對干燥、無塵、無震動，以保證掃描效果的穩定和準確。2.樣品準備：樣品表面需進行導電處理，如金屬噴霧或蒸鍍，以消除電荷積累對成像的影響。同時，樣品表面應光滑平整，避免劃痕或污染。3.設備檢查：檢查掃描電鏡各部...
一、結構共聚焦白光干涉儀(雖然通常直接稱為白光干涉儀，但“共聚焦”可能指的是其聚焦和測量過程中的一個特性)主要由以下幾個關鍵系統構成：照明光源系統：通常采用高亮度LED光源，Sensofar采用4色LED光源（紅、綠、藍、白），這一系統負責提供穩定、均勻的光源，用于后續的共聚焦、白光干涉、相位移干涉和多焦面疊加測量。光學成像系統：該系統采用無限遠光學成像方式，由顯微物鏡和成像目鏡(或現代設計中可能采用的CCD相機)組成。它負責接收從樣品和參考鏡反射回來的光線，并形成清晰的圖像...
切削刀具的塑造對最終產品的質量非常重要。它能提供刀具切削時的信息，例如能切削的材料總量。更具體地說，刀具的切削刃是表征刀具使用壽命、性能以及所需的切削速度和切削精度的關鍵特征。切削刃的評估半徑均勻性和邊緣的角度有助于理解切削刀具的切削性能。所有這些參數都能通過SensoPRO軟件的Edge模塊自動分析。因為SENSOFAR傳感器頭有3種光學測量技術，所以針對不同類型的刀削刃，我們可以選擇最合適的技術去評估。插入式刀削刃高精度的切割微鉆頭鉆頭的刃口刀削刃的分析模塊可以分析刃口的...