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產品簡介
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
產品分類
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款集成了共聚焦、白光干涉和多焦面疊加技術的高精度光學輪廓測量設備，廣泛應用于科研、工業和質量控制領域。該設備采用非接觸式測量方式，能夠實現納米級表面形貌的高精度測量。
在性能方面，Sensofar設備具備高分辨率和高穩定性，支持多種測量模式，如共聚焦、白光干涉和多焦面疊加，適用于不同表面特性樣品的測量。設備支持多種樣品臺和自動聚焦功能，便于靈活調整測量參數。
Sensofar設備的光學系統采用高線性電容傳感器和閉環反饋壓電陶瓷，確保測量的穩定性和重復性。設備支持多種物鏡選擇，適用于不同放大倍率和工作距離的需求。
Sensofar設備廣泛應用于半導體、精密光學、材料科學、生物醫學和工業制造等領域，適用于表面粗糙度、臨界尺寸和三維形貌的測量。設備操作簡便，支持多種軟件分析工具，便于用戶快速完成測量和分析。
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀是一款高性能、高精度的光學測量設備，適用于多種復雜表面的高精度測量需求。Sensofar三維共聚焦白光干涉儀