在科研與工業制造領域，表面形貌的精確測量是提升產品質量的關鍵環節。Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀憑借其四合一測量技術，成為多場景應用的理想工具。該設備在傳感器頭內集成干涉、共聚焦、AI多焦面疊加及膜厚測量技術，用戶僅需一鍵操作即可自動切換適配模式。例如，在半導體制造中，共聚焦模式可實現芯片表面微納結構的高橫向分辨率測量，而干涉模式則適用于光學鏡片平整度的納米級縱向檢測。Sensofar多技術融合的表面形貌測量新選擇

設備采用模塊化設計，提供5×、20×、100×共聚焦物鏡與10×、20×干涉物鏡組合，支持從微米級到亞納米級的表面細節捕捉。其核心部件包括高速高分辨率黑白CCD攝像頭（2442×2048像素，60fps）與彩色攝像頭，配合無運動部件的測量頭設計，確保長期穩定性與重復性。數據顯示，S neox的Z軸掃描范圍達0.1nm-34mm，橫向分辨率至0.10μm，垂直分辨率0.1nm，數據采集速度達180幀/秒，典型三維圖像獲取僅需3秒，大幅縮短檢測周期。

參數表

S neox適用于微電子、醫療設備、古生物學等領域，支持ISO 25178與ISO 4287標準粗糙度測量。其配套的SensoSCAN與SensoVIEW軟件提供2D/3D視圖切換、關鍵尺寸標注及智能編程功能，用戶可通過電動鼻輪快速切換物鏡，簡化操作流程。

文章二：Sensofar S lynx：靈活高效的小型化3D測量解決方案

針對實驗室與中小型企業的空間與預算限制，Sensofar推出S lynx經濟型三維共聚焦白光干涉輪廓儀。該設備延續品牌核心技術，將共聚焦、干涉與相位差干涉模式集成于緊湊機身，無需硬件插拔即可通過軟件切換測量模式，降低用戶成本。其設計簡潔但功能多樣，可測量金屬、陶瓷、聚合物等材質的表面粗糙度與波度，覆蓋從光滑到粗糙的各類形貌。

S lynx配備500萬像素相機與高亮度LED光源，支持0.1nm垂直分辨率與0.10μm橫向分辨率，掃描速度達毫米級每秒，適合快速檢測工件與模具。設備采用無限遠光學成像系統，結合微顯示器掃描共聚焦技術，通過多狹縫圖像偏移算法提升數據采集效率，減少系統噪聲至1nm以下。其XY平臺行程為50mm×50mm，可容納重量≤10kg的樣品，滿足小批量生產需求。

應用場景

• 消費電子：檢測手機玻璃蓋板表面劃痕與平整度

• 汽車制造：分析發動機葉片磨損與涂層均勻性

• 材料研究：表征金屬疲勞裂紋擴展路徑

用戶可通過SensoSCAN軟件實現自動對焦、照明優化與多級掃描范圍調整，軟件內置尺寸標注、形狀去除與濾波分析工具，支持生成標準化分析模板。設備提供長焦鏡頭與水鏡等可選配件，進一步擴展測量靈活性。Sensofar多技術融合的表面形貌測量新選擇