Sensofar光學輪廓儀：三維表面測量新選擇

在工業(yè)計量與質(zhì)量控制領(lǐng)域，對產(chǎn)品表面進行三維形貌測量是一項常見且重要的需求。Sensofar S lynx2 三維光學輪廓儀為此類應用提供了一個經(jīng)濟實用的選擇。它集成了共聚焦和白光干涉兩種測量技術(shù)，能夠適應多種不同的表面特性，滿足從研發(fā)到生產(chǎn)線的多種場景需求。

S lynx2的設(shè)計注重實用性與穩(wěn)定性。其機身結(jié)構(gòu)采用了優(yōu)質(zhì)合金材料，保證了儀器的剛性和長期使用的穩(wěn)定性，有效減少了環(huán)境振動帶來的測量誤差。工作臺面經(jīng)過精密加工，為樣品提供了平穩(wěn)的放置平臺。儀器外觀緊湊，占地面積小，非常適合放置在辦公桌或產(chǎn)線旁的測量工作站中。

在核心性能方面，S lynx2的共聚焦模式適用于測量從光滑到極度粗糙的表面，甚至是高傾斜角的表面。而它的白光干涉模式則擅長于測量亞納米級到微米級光滑表面的臺階高度和形貌。兩種技術(shù)通過軟件智能切換，用戶無需手動更換部件，提升了測量效率。

其參數(shù)表現(xiàn)均衡，例如在垂直分辨率方面，共聚焦模式可達納米級別，白光干涉模式可達亞納米級別。橫向分辨率則與所選物鏡的放大倍數(shù)相關(guān)，最高可達約0.3微米。測量速度方面，它能在數(shù)秒至一分鐘內(nèi)完成一次三維掃描，具體時間取決于所選區(qū)域大小和分辨率。

S lynx2的型號配置靈活，用戶可以根據(jù)主要的測量需求（如更側(cè)重粗糙度還是納米級薄膜臺階）來選擇不同的物鏡套組。無論是金屬、陶瓷、半導體、聚合物還是透明材料，它都能提供相應的測量解決方案。

使用S lynx2的過程較為簡便。通過隨機附帶的專業(yè)控制軟件，用戶可以輕松設(shè)置測量區(qū)域、選擇測量模式、調(diào)整焦距。完成掃描后，軟件內(nèi)置的分析工具可快速提供粗糙度、臺階高、體積、面積等一系列參數(shù)，并生成直觀的三維形貌圖、二維輪廓線等結(jié)果，輔助用戶進行高效決策。

Sensofar光學輪廓儀：三維表面測量新選擇