sensofar白光干涉光學輪廓儀雙重場景適配
一、雙重場景適配：兼顧科研與生產需求
Sensofar S neox Five Axis 共聚焦白光干涉光學輪廓儀在設計時充分考慮科研與工業場景的差異，通過靈活配置與功能優化，既能滿足實驗室的精細研究需求，也能適配生產線的高效質檢工作，成為跨場景使用的實用工具。
在科研場景中，針對材料表面改性研究、微納結構制備等課題，設備可提供高分辨率的測量數據。例如研究新型涂層材料時，科研人員可通過共聚焦模式觀察涂層表面的微觀形貌，分析涂層厚度分布與表面粗糙度的關系；探索微納器件結構時，白光干涉模式能捕捉器件表面納米級的起伏變化，為結構設計優化提供數據支撐。設備支持自定義掃描參數，科研人員可根據實驗需求調整掃描范圍、采樣頻率等，搭配數據導出功能，方便將測量結果導入分析軟件進行深入研究。
工業場景下，設備則注重檢測效率與穩定性。在電子元件生產線，針對芯片引腳、連接器接口等精密部件的批量檢測，設備可預設檢測流程，通過五軸系統自動調整樣品姿態，實現連續快速檢測。以某半導體工廠為例，檢測芯片封裝后的引腳高度時，設備每小時可完成 200 片芯片的檢測，且數據一致性好，能及時篩選出引腳高度異常的產品，避免不良品流入后續工序。
二、軟件功能：簡化操作與數據處理
配套的 SensoSCAN 軟件是設備適配雙場景的核心支撐，其功能設計兼顧科研的靈活性與工業的高效性。軟件內置多種測量模塊，科研場景常用的 “3D 表面重建" 模塊，可將測量數據轉化為三維模型，直觀呈現樣品表面結構；工業場景適用的 “批量檢測" 模塊，支持一鍵啟動多樣品連續檢測，自動生成質檢報告，減少人工操作時間。
針對科研用戶的個性化需求，軟件支持自定義分析算法。例如研究生物材料時，科研人員可根據細胞附著特性，調整表面粗糙度的計算方式；而工業用戶則可調用軟件中的行業標準模板，如電子行業的 IPC 標準、汽車行業的 ISO 標準，確保檢測結果符合行業規范。軟件還具備數據對比功能，科研人員可將不同實驗階段的測量數據疊加分析，觀察材料表面的變化趨勢；工業用戶則能對比批次產品的檢測數據，監控生產工藝的穩定性。
三、靈活配置：適配不同檢測需求
為進一步滿足雙場景差異，設備提供多種可選配置。科研場景可搭配高倍率物鏡組（如 100×、150×），提升微觀結構的分辨能力；選擇低溫樣品臺，可用于研究溫度對材料表面形貌的影響。工業場景則可配置自動上料裝置，實現樣品的自動傳輸與定位，減少人工干預；加裝防塵罩與防震底座，適應車間的復雜環境，確保檢測穩定性。
以某高校材料實驗室的配置為例，其選用高倍率物鏡與低溫樣品臺，用于研究低溫環境下金屬材料的表面腐蝕情況；而某汽車零部件廠則搭配自動上料裝置與防震底座，用于發動機活塞的批量檢測，兩種配置雖不同，但都能通過設備的基礎功能與軟件支持，滿足各自場景的核心需求。
四、使用體驗：降低跨場景操作門檻
無論在科研還是工業場景，設備都注重降低操作門檻。操作界面采用統一的圖標化設計，科研人員與工業操作員經過簡單培訓即可上手。軟件中的 “向導模式"，會逐步引導用戶完成參數設置、樣品定位、檢測啟動等步驟，尤其適合新手使用。
在數據存儲與管理方面，軟件支持按場景分類存儲數據。科研數據可按實驗項目、日期進行歸檔，方便后續查閱與追溯；工業數據則可關聯產品批次、生產時間等信息，便于質量追溯與工藝優化。同時，設備支持遠程控制功能，科研人員可在辦公室查看實驗進度，工業管理人員也能實時監控生產線的檢測數據，提升工作效率。
從實驗室的精細研究到生產線的批量質檢，S neox Five Axis 共聚焦白光干涉光學輪廓儀通過場景適配、軟件優化與靈活配置，為不同領域的用戶提供貼合需求的測量解決方案，成為科研與工業領域的實用幫手。sensofar白光干涉光學輪廓儀雙重場景適配
當前位置：
相關文章
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
產品簡介
產品分類